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常见测量技术参考
探头、过孔与空间考量
在进行高速内存验证时，必须仔细核对芯片具体料号、Pitch 距与信号线净空。
探头阻抗
链路损耗
机械净空
探头负载影响
过孔走线衰减
增高支架安装
评估示波器探头引入的电容负载对高速 DDR5/DDR6 信号边沿及眼图张开度的实际影响。
分析 Interposer 内部微型过孔与走线长度分布对高频信号衰减及抖动测试的关联。
确保转接板在目标主板与 DRAM 之间的物理厚度与机械空间满足探头搭接净空需求。